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Atomic Force Microscope (AFM)

keine Frist angegeben
EU-weit (Oberschwelle)
Auftraggeber
Walther-Meissner-Institut der Bayerischen Akademie der Wissenschaften
Ort
Garching · München, Landkreis
Branche (CPV)
38000000 - Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Auftragsart
Lieferung
Sektor
Bildung
Geschätzter Wert
Wert k. A.
Verfahren
Offenes Verfahren
Veröffentlicht
25.10.2026
Abgabefrist
keine Frist angegeben
Amtliche Bekanntmachung

Leistungsbeschreibung

Rasterkraftmikroskop für die Untersuchung von Oberflächen von mikro- und nanostrukturierten Quantenbauteilen mit hoher Auflösung und auf Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 200mm. Anwendungsfelder reichen von der Untersuchung von photonischen Schaltkreisen bis hin zu supraleitenden Quantenschaltkreisen.

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Datenquelle: oeffentlichevergabe.de (OpenData). Maßgeblich ist die amtliche Bekanntmachung der jeweiligen Vergabestelle.

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